本次讲座乐彬先生系统全面地介绍了可测试性设计（DFT）的基本概念和方法论，先从DFT的缘起（Motivation）开始介绍，并详细说明了缺陷建模（Fault Modeling），然后解释了可测试性（Testability）的内涵，从而引出了提升可测试性的方法 - DFT技术，包括扫描（Scan），ATPG，内建自测试（BIST），边界扫描（Boundary Scan）。在扫描技术中，又逐步解释了扫描技术的演进，包括压缩（Compression）、Hierarchy Scan和Streaming Scan Network(SSN). 在BIST中又分析了MBIST、repair及LBIST。最后又涵盖了3D DFT、IP test、In-system test和diagnosis等主题。

在技术分享之后，特别分析了DFT技术的特殊性，以及在流程中与各个环节的关系。也正因为DFT自身形成了基于产品定位从端到端的闭环管理，必须要纳入项目管理的范畴，通过AI和车载MCU两种芯片应用案例，分析它们在质量、成本、进度及风险之间如何权衡及优化，以达到DFT流程的最优管理。最后也基于半导体大厂的流程运作方式，给出了个人对初创公司进行DFT流程和团队建设的意见，也对未来国内DFT的发展给予了期待和展望。

在交流环节，行业专业听众问询了诸多关于DFT技术的相关问题，乐彬先生一一作出了详细解答。精彩演讲，耐心的解答得到听众们的一致好评和及赞赏。